Analisi dei materiali - OES - Ingenieurbüro Kukuk

Autenticazione mediante spettrometria

La spettrometria (spettrometria a emissione ottica, OEM) viene utilizzata per determinare la composizione del materiale, ossia gli elementi che lo compongono in percentuale. Successivamente, è possibile determinare l'età del materiale sulla base degli elementi e del processo di fabbricazione, con una precisione massima di un decennio.

Utilizziamo solo metodi accreditati: Analisi spettrale, spark OES per l'analisi di materiali sofisticati. Disponiamo di una varietà di metodi analitici per soddisfare in modo ottimale le vostre esigenze. Utilizzo mobile e in loco presso il vostro veicolo determiniamo la composizione chimica dei materiali con elevata precisione e possiamo quindi effettuare un'analisi di originalità e di datazione con i nostri analisti giurati dei materiali. Non è necessario rimuovere alcun materiale, non è necessario prelevare alcun campione e non è necessario adottare altre misure distruttive.

La spettrometria, come metodo forense/scientifico per verificare l'autenticità di un veicolo, viene utilizzata nel nostro ufficio tecnico. dal 1986 applicato. Da 9 anni siamo in grado di effettuare la determinazione della composizione del materiale, nella gamma di qualità/millesimi richiesta, in modo quasi indistruttibile e mobile. Ciò significa che possiamo effettuare un'indagine corrispondente in qualsiasi momento, sia a livello nazionale che internazionale. Ad oggi, abbiamo potuto ampliare la nostra esperienza sulle coste occidentali ed orientali del Nord America, in Sud America, a Tokyo, a Mosca, nel nord Italia, in Inghilterra, in Belgio, nei Paesi Bassi, in Svizzera e in Austria.

Analisi di metalli e leghe sullo spettrometro a scintilla

Con questo metodo è possibile analizzare tutti i materiali metallici più comuni:

Ghisa
acciai non legati
Acciai basso legati
Acciai inossidabili a bassa e ad alta lega
Materiali e leghe di alluminio
Materiali e leghe di rame
Leghe a base di nichel
Materiali in titanio

Il nostro spettrometro mobile ad alta precisione ad emissione di scintille Spectro è utilizzato per la precisa determinazione qualitativa e quantitativa degli elementi chimici nei metalli, utilizzando lo spettro di emissione ottica degli atomi o degli ioni atomici. Determina tutti gli elementi utilizzati nell'industria metallurgica, compresa l'analisi di tracce di carbonio, fosforo, zolfo e azoto.

Metodi accreditati:ASTM E 1086 2014 Metodo di prova standard per l'analisi dell'acciaio inossidabile austenitico mediante spettrometria di emissione atomica a scintilla
ASTM E 1999 2018 Metodo di prova standard per l'analisi della ghisa mediante spettrometria di emissione atomica a scintilla
ASTM E 415 2017 Metodo di prova standard per l'analisi di acciai al carbonio e basso legati mediante spettrometria di emissione atomica a scintilla
DIN EN 14726 2019-06 Alluminio e leghe di alluminio - Determinazione della composizione chimica dell'alluminio e delle leghe di alluminio mediante spettrometria di emissione ottica con eccitazione a scintilla
ASTM E 2209 2013 Metodo di prova standard per l'analisi dell'acciaio ad alto tenore di manganese mediante spettrometria di emissione atomica a scintilla
DIN EN 15079 2015-07 Rame e leghe di rame - Analisi mediante spettrometria di emissione ottica eccitata da scintilla (F-OES)

Spettrometro radio OES

Lo spettrometro a scintilla (spark emission spectrometer) è un dispositivo per la determinazione qualitativa e quantitativa degli elementi chimici nei metalli e utilizza a tal fine lo spettro di emissione ottica degli atomi o degli ioni atomici (da cui anche spark optical emission spectrometer o spark OES). Per le analisi si utilizza una scintilla o un arco elettrico tra un elettrodo e un campione di materiale preparato. In questo modo il materiale del campione viene vaporizzato e gli atomi e gli ioni rilasciati vengono eccitati dall'impatto degli elettroni. La radiazione emessa viene divisa otticamente nelle sue singole componenti spettrali. Ogni elemento contenuto nel campione emette radiazioni a diverse lunghezze d'onda, che possono essere rilevate da sensori a semiconduttore o da moltiplicatori di fotoelettroni. L'intensità della radiazione così misurata è fondamentalmente proporzionale alla quantità dell'elemento corrispondente e consente quindi di determinarne il contenuto o la concentrazione nel materiale del campione.